測試針，業(yè)內(nèi)也稱測試探針，用于PCB板測試時又分為彈簧針(專用針)和通用針，彈簧針在使用時，需要根據(jù)所測試的PCB板的布線情況制作測試模具，且一般情況下，一個模具只能測試一種PCB板；通用針在使用時，只需有足夠的點數(shù)即可，故現(xiàn)在很多廠家都在使用通用針；彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針，PCB板探針主要用于PCB板測試，ICT探針主要用于插件后的在線測試，BGA探針主要用于BGA封裝測試及芯片測試。

目前國外的主要測試探針供應(yīng)商有：美國的ECT、德國的INGUN、美國的QA等，其中ECT的雙頭探針性價比最高；

1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分鑒定.

2、金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領(lǐng)域.

3、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析.

4、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析,如：金屬化膜表面鍍層的檢測.

5、進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析.

用途可分為：

A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；

B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；優(yōu)良產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；

C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但目前只有精測通電子等一小部分廠商成功生產(chǎn)。