探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：

A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；

B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；優(yōu)良產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；

C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1、ICT探針?。↖CT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1。27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil，75mil，50mil，還有更特別的直徑只有0。19mm，主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試。也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試。也是目前應(yīng)用較多的一種探針。

2、界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)。用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面。

3、微型探針（MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0。25mm至0。76mm。

4、開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes)

開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流。

5、高頻探針（Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的。

6、旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試。

7、高電流探針（High Current Probes)

探針直徑在2。54mm-4。75mm之間．最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps。

8、半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0。50mm-1。27mm之間．帶寬大于10GHz，50Ω characteristic。

9、電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)。

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用。